Detection of Field Failure Chips by Ensemble Learned from Different Chip Areas
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작성자 관리자
조회 1,106회 작성일 21-10-21 23:16
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| Conference | IEEE Microelectronics Design & Test Symposium (MDTS) |
|---|---|
| Name | M.-S. Kim, J.-S. Lee, and J.-H. Chun |
| Year | 2021 |
M.-S. Kim, J.-S. Lee, and J.-H. Chun